当前位置: 剪切机械 >> 剪切机械介绍 >> 半导体芯片锡球剪切测试的术语解释
芯片锡球剪切测试方法适用于焊球结束前使用的附着物剪切力测试。焊球分别剪切;力量和失效模式下的数据收集和分析。包括低速和高速测试。
锡球剪切试验的目的是进行评估锡球能够承受机械剪切的能力,可能在器件制造、处理、检验、运输和最终使用的作用力。焊料球剪切是一种破坏性试验。
术语和定义
剪切力:
适用于一个方向平行于设备平面到焊料球的力量。
测试仪器:
测试仪器用于应用剪切力焊锡球。
剪切工具:
一个刚硬的工具,直接对着在焊球剪切(如图)。剪切工具集成了传感元件,使剪切力可以测量。
剪切工具支架:
设备平面和剪切工具刀之间的距离。
夹具:
剪切测试时夹具固定焊球在设备上。
剪切速度:
剪切刀具移动速率去剪焊锡球。
低速剪切:
剪切速度通常是0.-0.米/秒(-微米/秒)。
高速剪切:
剪切速度是一般为0.01-1.0米/秒,但可以超出这个范围。
回流后经过时间:焊球剪切和焊料球最后回流之间经过的时间。
失效模式:
类型或锡球剪切后观察到的失效位置。
后压力测试:
锡球剪切后进行可靠性评估,如温度循环或高温储存压力测试。
以上就是锡球剪切测试的相关术语解释,之后小编会为大家继续分享锡球剪切测试的相关内容,欢迎继续
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